X 射線熒光測量儀 XDLM ® 237
更新日期：2024-05-14
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簡要描述：
X 射線熒光測量儀 XDLM ® 237FISCHERSCOPE ® X 射線 XDLM 237 ®比例計數(shù)器（PC）型熒光X射線膜厚測量儀。配備 4 種準直器和 3 種初級濾光片，它是一種高度通用的型號，也適用于電子元件和半導體行業(yè)的功能性多層膜測量。
X 射線熒光測量儀 XDLM ® 237
X 射線熒光測量儀 XDLM ® 237
日本進口fischerX 射線熒光測量儀 XDLM ® 237
特征
- 微型聚焦管安裝在 X 射線管上，以較小的測量點進行分析。
- 外殼有一個狹窄的開口（C 槽），可以測量大的板狀樣品。
- 配備 4 種準直器和 3 種初級濾光片的多功能型號
主要規(guī)格
從上往下看，是輻照式熒光X射線膜厚測量和材料分析儀。可編程 XY 平臺還允許自動連續(xù)測量。
| 模型 | 第 237 章 |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鈣 (20) -U (92) |
| X射線探測器 | 比例計數(shù)器 (PC) |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 3種 |
| 準直器數(shù)量/尺寸 | 4種 / 0.05 x 0.05mm ~ Φ0.2mm |
| 車身尺寸 | 570 x 760 x 650mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
主要應用
- 連接器和接觸部件的薄膜厚度測量
- 電子元件/半導體行業(yè)中的功能性多層膜測量
- 印刷電路板行業(yè)中的Au、Pd、Ni薄膜測量
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